3 전압 레퍼런스가 THD에 미치는 영향

전압 레퍼런스 핀을 반복적으로 샘플링하면 몇 나노초 간격으로 전류 과도 현상이 나타날 수 있습니다. 그러나 ADC의 경우 큰 게인 오류를 피하기 위해 외부 레퍼런스가 샘플 단계의 종료 시 안정화되거나 재충전되어야 합니다. 샘플링 속도를 늦추면 이 문제가 해결될 수 있지만 항상 가능한 것은 아닙니다. 일반적으로 ADC가 더 정밀할수록 레퍼런스 입력에 더 많은 전류 유입량이 필요합니다. 전압 레퍼런스의 대역폭이 충분하지 않거나 출력 임피던스가 너무 높으면 ADC의 레퍼런스 입력을 재충전할 수 없습니다. 이로 인해 전압 강하가 발생하여 게인 오류가 발생하고 ENOB가 낮아집니다.

이러한 이유로 ADC의 THD를 높이고 왜곡 및 ENOB에 대한 데이터 시트 사양을 충족하는 데 전압 레퍼런스 외부의 고대역폭, 낮은 출력 임피던스 버퍼가 필요한 경우가 있습니다. 일부 ADC에는 내부 전압 레퍼런스 버퍼가 있지만, 일부는 아닙니다. 그림 2에서는 회로의 THD를 늘리기 위해 외부 버퍼를 추가하는 위치를 보여줍니다.