NEST065 May   2024 ADS8900B , OPA2320

 

  1.   1
  2. 1簡介
  3. 2電壓參考對 ADC 雜訊的影響
  4. 3電壓參考對 THD 的影響
  5. 4電壓參考雜訊與 THD 如何影響 ENOB
  6. 5電壓參考雜訊如何影響無雜訊解析度
  7. 6結論

電壓參考對 THD 的影響

電壓參考針腳的重複取樣會造成電流瞬態出現,且可能只分離幾奈秒。然而,對 ADC 而言,外部參考必須在取樣相位結束時安定或充電,以避免產生較大的增益誤差。降低取樣速度可以解決此問題,但並非根本之道。通常 ADC 越精確,其參考輸入所需的電流消耗就越多。如果電壓參考沒有足夠的高頻寬,或輸出阻抗過高,將無法為 ADC 的參考輸入充電。這會造成電壓下降,而產生增益誤差和 ENOB 下修。

因此,有時必須在電壓參考之外建立高頻寬、低輸出阻抗緩衝器,才能增加 ADC 的 THD,並符合失真與 ENOB 的產品規格書規範。部分 ADC 配備內部電壓參考緩衝器,但並非全部都是如此。圖 2 顯示應在何處加上外部緩衝器來提高電路 THD。

 具有外部電壓參考及參考緩衝器的通用 ADC 電路配置。圖 2 具有外部電壓參考及參考緩衝器的通用 ADC 電路配置。