테스트 및 측정
TI의 아날로그 및 임베디드 프로세싱 제품과 전문 지식을 통해 더 높은 밀도 테스트, 더 낮은 테스트 시간, 더 높은 정확도를 달성하세요.
테스트 및 측정 애플리케이션에 TI를 선택해야 하는 이유
초저잡음을 위한 설계
TI의 고성능 신호 체인과 저잡음 전원 제품 및 레퍼런스 설계로 최고의 SNR 성능을 달성하여 시장 출시 시간을 단축하세요.
채널 밀도 극대화
설계 통합을 위한 TI의 혁신적인 패키지 기술 및 제품으로 신호 체인 및 전원 솔루션의 크기를 줄이세요.
높은 정밀도 및 정확도를 달성하세요.
최신 정밀 ADC 및 증폭기로 성능 요구 사항을 충족하고 비용 대비 성능 비율을 향상하세요.
테스트 및 측정의 다음 단계 엔지니어링
IC에 대한 수요가 증가함에 따라 테스트 채널 밀도는 물론 VI 기기가 지원해야 하는 전압 및 전류도 증가하고 있습니다. TI의 전력 증폭기, 스위치 및 전원 모듈을 사용하면 솔루션 크기를 줄이고 테스트 채널 밀도를 높일 수 있습니다.
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잡음을 최소화하는 것은 클록, 데이터 컨버터 또는 증폭기와 같은 테스트 및 측정 애플리케이션을 위한 잡음에 민감한 시스템용 전원 공급 장치를 설계하는 엔지니어가 해결해야 하는 흔한 과제입니다. '잡음'이라는 용어는 사람마다 다른 의미를 가질 수 있지만, TI는 잡음을 회로의 레지스터와 트랜지스터에 의해 생성되는 저주파 열 잡음으로 정의합니다.
스펙트럼 잡음-밀도 곡선(헤르츠 제곱근당 마이크로볼트)을 통해 잡음을 식별할 수 있으며, 보통 100Hz~100kHz의 특정 범위에 걸쳐 제곱근 평균 마이크로볼트의 통합 출력 잡음으로 식별할 수 있습니다. TI는 신호 체인에서 장치의 성능에 영향을 줄 수 있는 잠재적인 잡음 커플링을 줄이는 데 도움이 되는 제품 및 레퍼런스 설계를 제공합니다.
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