GaN 및 C2000을 사용한 배터리 테스트
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2024 년 09 월 10 일
이 데모에서는 C2000™ 실시간 MCU와 TI의 최신 100V GaN 장치를 사용하여 정밀한 충전 및 방전 제어를 구현하는 방법을 보여 줍니다. 이 레퍼런스 설계는 C2000의 고분해능 PWM 서브시스템과 16비트 정밀 SAR ADC를 사용하여 전류 및 전압 조정 오차를 풀 스케일의 ±0.02% 이상 달성합니다.