CD4044B
- 3-state outputs with common output ENABLE
- Separate SET and RESET inputs for each latch
- NOR and NAND configurations
- 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
- Standardized symmetrical output characteristics
- 100% tested for quiescent current at 20 V
- Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
- Noise margin (over full package temperature range):
- 1 V at VDD = 5 V
- 2 V at VDD = 10 V
- 2.5 V at VDD = 15 V
- Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
- Applications
- Holding register in multi-register system
- Four bits of independent storage with output ENABLE
- Strobed register
- General digital logic
- CD4043B for positive logic systems
- CD4044B for negative logic systems
Data sheet acquired from Harris Semiconductor
CD4043B types are quad cross-coupled 3-state CMOS NOR latches and the CD4044B types are quad cross-coupled 3-state CMOS NAND latches. Each latch has a separate Q output and individual SET and RESET inputs. The Q outputs are controlled by a common ENABLE input. A logic "1" or high on the ENABLE input connects the latch states to the Q outputs. A logic "0" or low on the ENABLE input disconnects the latch states from the Q outputs, resulting in an open circuit condition on the Q outputs. The open circuit feature allows common busing of the outputs.
The CD4043B and CD4044B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline package (D, DR, DT, DWR, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | データシート | CD4043B, CD4044B Types データシート (Rev. D) | 2003年 10月 13日 | |||
アプリケーション・ノート | Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 12月 15日 | |||
セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
ユーザー・ガイド | Signal Switch Data Book (Rev. A) | 2003年 11月 14日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics | 2001年 12月 3日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
PDIP (N) | 16 | Ultra Librarian |
SOIC (D) | 16 | Ultra Librarian |
SOIC (DW) | 16 | Ultra Librarian |
SOP (NS) | 16 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点