CD4094B
- 3-state parallel outputs for connection to common bus
- Separate serial outputs synchronous to both positive and negative clock edges for cascading
- Medium speed operation - 5 MHz at 10 V (typ.)
- Standardized, symmetrical output characteristics
- 100% tested for quiescent current at 20 V
- Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
- Noise margin (full package temperature range):
1 V at VDD = 5 V
2 V at VDD = 10 V
2.5 V at VDD = 15 V - 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
- Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
- Applications
- Serial-to-parallel data conversion
- Remote control holding register
- Dual-rank shift, hold, and bus applications
CD4094B is an 8-stage serial shift register having a storage latch associated with each stage for strobing data from the serial input to parallel buffered 3-state outputs. The parallel outputs may be connected directly to common bus lines. Data is shifted on positive clock transitions. The data in each shift register stage is transferred to the storage register when the STROBE input is high. Data in the storage register appears at the outputs whenever the OUTPUT-ENABLE signal is high.
Two serial outputs are available for cascading a number of CD4094B devices. Data is available at the QS serial output terminal on positive clock edges to allow for high-speed operation in cascaded systems in which the clock rise time is fast. The same serial information, available at the Q'S terminal on the next negative clock edge, provides a means for cascading CD4094B devices when the clock rise time is slow.
The CD4094B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (NSR suffix), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | CD4094B データシート (Rev. B) | 2003年 6月 27日 | |||
アプリケーション・ノート | Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 12月 15日 | |||
セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
ユーザー・ガイド | Signal Switch Data Book (Rev. A) | 2003年 11月 14日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics | 2001年 12月 3日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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PDIP (N) | 16 | Ultra Librarian |
SOP (NS) | 16 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点