ONET8541T
- 9 GHz Bandwidth
- 4 kΩ Differential Small Signal Transimpedance
- -20dBm Sensitivity
- 0.95 µARMS Input Referred Noise
- 2.5 mAPP Input Overload Current
- Received Signal Strength Indication (RSSI)
- 90 mW Typical Power Dissipation
- CML Data Outputs with On-Chip 50Ω Back-Termination
- On Chip Supply Filter Capacitor
- Single 3.3 V Supply
- Die Size: 870 µm × 1036 µm
The ONET8541T is a high-speed, high gain, limiting transimpedance amplifier used in optical receivers with data rates up to 11.3Gbps. It features low input referred noise, 9GHz bandwidth, 4kΩ small signal transimpedance, and a received signal strength indicator (RSSI).
The ONET8541T is available in die form, includes an on-chip VCC bypass capacitor and is optimized for packaging in a TO can.
The ONET8541T requires a single 3.3V ±10% supply and its power efficient design typically dissipates less than 90mW. The device is characterized for operation from –40°C to 100°C case (IC back side) temperature.
技術資料
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1 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | 11.3 Gbps Limiting Transimpedance Amplifier with RSSI . データシート (Rev. A) | 2011年 8月 18日 |
設計および開発
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シミュレーション・ツール
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
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TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。
TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)
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TINA は DesignSoft (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| DIESALE (Y) | — | |
| WAFERSALE (YS) | — |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。