SN54BCT8373A
- Members of the Texas Instruments SCOPETM Family of Testability Products
- Octal Test-Integrated Circuits
- Functionally Equivalent to 'F373 and 'BCT373 in the Normal-Function Mode
- Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
- Test Operation Synchronous to Test Access Port (TAP)
- Implement Optional Test Reset Signal by Recognizing a Double-High-Level Voltage (10 V) on TMS Pin
- SCOPETM Instruction Set
- IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instructions, Optional INTEST, CLAMP, and HIGHZ
- Parallel Signature Analysis at Inputs
- Pseudo-Random Pattern Generation From Outputs
- Sample Inputs/Toggle Outputs
- Package Options Include Plastic Small-Outline (DW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs (JT, NT)
SCOPE is a trademark of Texas Instruments Incorporated.
The 'BCT8373A scan test devices with octal D-type latches are
members of the Texas Instruments SCOPETM testability
integrated-
circuit family. This family of devices supports IEEE Standard
1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit
board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished
via the 4-wire test access port (TAP) interface.
In the normal mode, these devices are functionally equivalent to the 'F373 and 'BCT373 octal D-type latches. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing at the device terminals or to perform a self test on the boundary test cells. Activating the TAP in normal mode does not affect the functional operation of the SCOPETM octal latches.
In the test mode, the normal operation of the SCOPETM octal latches is inhibited and the test circuitry is enabled to observe and control the I/O boundary of the device. When enabled, the test circuitry can perform boundary scan test operations, as described in IEEE Standard 1149.1-1990.
Four dedicated test terminals are used to control the operation of the test circuitry: test data input (TDI), test data output (TDO), test mode select (TMS), and test clock (TCK). Additionally, the test circuitry can perform other testing functions such as parallel signature analysis (PSA) on data inputs and pseudo-random pattern generation (PRPG) from data outputs. All testing and scan operations are synchronized to the TAP interface.
The SN54BCT8373A is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74BCT8373A is characterized for operation from 0°C to 70°C.
技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | Scan Test Devices With Octal D-Type Latches データシート (Rev. F) | 1996年 7月 1日 | |||
| * | SMD | SN54BCT8373A SMD 5962-91725 | 2016年 6月 21日 | |||
| アプリケーション・ノート | Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) | 2021年 7月 26日 | ||||
| セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
| セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
| ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
| アプリケーション・ノート | TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes | 2002年 8月 29日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) | 1997年 8月 1日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Designing With Logic (Rev. C) | 1997年 6月 1日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits | 1996年 10月 1日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Live Insertion | 1996年 10月 1日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| CDIP (JT) | 24 | Ultra Librarian |
| LCCC (FK) | 28 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点