SN54HC00

アクティブ

ミリタリー、4 チャネル、2 入力、2V ~ 6V NAND ゲート

製品詳細

Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67 CFP (W) 14 58.023 mm² 9.21 x 6.3 LCCC (FK) 20 79.0321 mm² 8.89 x 8.89
  • バッファ付き入力
  • 広い動作電圧範囲:2V~6V
  • 広い動作温度範囲: –40°C to +85°C
  • 最大 10 個の LSTTL 負荷ファンアウトに対応
  • LSTTL ロジック IC に比べて消費電力を大幅削減
  • バッファ付き入力
  • 広い動作電圧範囲:2V~6V
  • 広い動作温度範囲: –40°C to +85°C
  • 最大 10 個の LSTTL 負荷ファンアウトに対応
  • LSTTL ロジック IC に比べて消費電力を大幅削減

このデバイスには、4 つの独立した 2 入力 NAND ゲートが内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A ● B を正論理で実行します。

このデバイスには、4 つの独立した 2 入力 NAND ゲートが内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A ● B を正論理で実行します。

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SNx4HC00 クワッド 2 入力 NAND ゲート データシート (Rev. H 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.H) PDF | HTML 2022年 2月 28日
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アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート SN54/74HCT CMOS Logic Family Applications and Restrictions 1996年 5月 1日
アプリケーション・ノート Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996年 4月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 14 Ultra Librarian
CFP (W) 14 Ultra Librarian
LCCC (FK) 20 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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