SN54LS10-SP

アクティブ

航空宇宙、3 チャネル、3 入力、4.5V ~ 5.5V バイポーラ NAND ゲート

製品詳細

Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 1 IOH (max) (mA) -20 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 35 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 1 IOH (max) (mA) -20 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 35 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
CFP (W) 14 58.023 mm² 9.21 x 6.3
  • Package Options Include Plastic "Small Outline" Packages, Ceramic Chip Carriers and Flat Packages, and Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

  • Package Options Include Plastic "Small Outline" Packages, Ceramic Chip Carriers and Flat Packages, and Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

These devices contain three independent 3-input NAND gates.

The SN5410, SN54LS10, and SN54S10 are characterized for operation over the full military temperature range of –55°C to 125°C. The SN7410, SN74LS10 and SN74S10 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

These devices contain three independent 3-input NAND gates.

The SN5410, SN54LS10, and SN54S10 are characterized for operation over the full military temperature range of –55°C to 125°C. The SN7410, SN74LS10 and SN74S10 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと類似の機能
SN54SC4T00-SEP アクティブ 耐放射線特性、レベル シフタ内蔵、4 チャネル、2 入力、1.2V ~ 5.5V NAND ゲート Voltage range (1.2V to 5.5V)

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
16 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN5410, SN54LS10, SN54S10, SN7410, SN74LS10, SN74S10 データシート (Rev. A) 2003年 4月 16日
アプリケーション概要 DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. B) PDF | HTML 2024年 5月 17日
セレクション・ガイド TI Space Products (Rev. J) 2024年 2月 12日
その他の技術資料 TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. A) 2023年 8月 31日
アプリケーション・ノート Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. A) PDF | HTML 2022年 11月 17日
アプリケーション・ノート Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) PDF | HTML 2022年 10月 19日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing with the SN54/74LS123 (Rev. A) 1997年 3月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CFP (W) 14 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ