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SN54LS75

アクティブ

4 ビット、双安定ラッチ

製品詳細

Number of channels 4 Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type Bipolar Output type TTL Clock frequency (max) (MHz) 35 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -0.4 Supply current (max) (µA) 46000 Features Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 4 Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type Bipolar Output type TTL Clock frequency (max) (MHz) 35 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -0.4 Supply current (max) (µA) 46000 Features Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92 CFP (W) 16 69.319 mm² 10.3 x 6.73

These latches are ideally suited for use as temporary storage for binary information between processing units and input/output or indicator units. Information present at a data (D) input is transferred to the Q output when the enable (C) is high and the Q output will follow the data input as long as the enable remains high. When the enable goes low, the information (that was present at the data input at the time the transition occurred) is retained at the Q output until the enable is permitted to go high.

The '75 and 'LS75 feature complementary Q and Q\ outputs from a 4-bit latch, and are available in various 16-pin packages. For higher component density applications, the '77 and 'LS77 4-bit latches are available in 14-pin flat packages.

These circuits are completely compatible with all popular TTL families. All inputs are diode-clamped to minimize transmission-line effects and simplify system design. Series 54 and 54LS devices are characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C; Series 74, and 74LS devices are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

These latches are ideally suited for use as temporary storage for binary information between processing units and input/output or indicator units. Information present at a data (D) input is transferred to the Q output when the enable (C) is high and the Q output will follow the data input as long as the enable remains high. When the enable goes low, the information (that was present at the data input at the time the transition occurred) is retained at the Q output until the enable is permitted to go high.

The '75 and 'LS75 feature complementary Q and Q\ outputs from a 4-bit latch, and are available in various 16-pin packages. For higher component density applications, the '77 and 'LS77 4-bit latches are available in 14-pin flat packages.

These circuits are completely compatible with all popular TTL families. All inputs are diode-clamped to minimize transmission-line effects and simplify system design. Series 54 and 54LS devices are characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C; Series 74, and 74LS devices are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート 4-Bit Bistable Latches データシート 1988年 3月 1日
* SMD SN54LS75 SMD 7601201EA 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing with the SN54/74LS123 (Rev. A) 1997年 3月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 16 Ultra Librarian
CFP (W) 16 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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