ホーム ロジックと電圧変換 フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ D タイプ・フリップ・フロップ

SN54S74

アクティブ

プリセット搭載、デュアル、D タイプ・ポジティブ・エッジ・トリガ・フリップ・フロップ

製品詳細

Number of channels 2 Technology family S Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 50 IOL (max) (mA) 20 IOH (max) (mA) -1 Supply current (max) (µA) 25000 Features High speed (tpd 10-50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 2 Technology family S Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 50 IOL (max) (mA) 20 IOH (max) (mA) -1 Supply current (max) (µA) 25000 Features High speed (tpd 10-50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67 CFP (W) 14 58.023 mm² 9.21 x 6.3
  • Package Options Include Plastic “Small Outline" Packages, Ceramic Chip Carriers and Flat Packages, and Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 

  • Package Options Include Plastic “Small Outline" Packages, Ceramic Chip Carriers and Flat Packages, and Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 

These devices contain two independent D-type positive-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset or clear inputs sets or resets the outputs regardless of the levels of the other inputs. When preset and clear are inactive (high), data at the D input meeting the setup time requirements are transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold time interval, data at the D input may be changed without affecting the levels at the outputs.

The SN54' family is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74' family is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

These devices contain two independent D-type positive-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset or clear inputs sets or resets the outputs regardless of the levels of the other inputs. When preset and clear are inactive (high), data at the D input meeting the setup time requirements are transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold time interval, data at the D input may be changed without affecting the levels at the outputs.

The SN54' family is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74' family is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン配置が異なる製品
SN74LV2T74-EP アクティブ エンハンスド製品、クリアとプリセット搭載、レベル シフタ内蔵、デュアル D タイプ フリップ フロップ Voltage range (1.65V to 5.5V), voltage translation capable

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
10 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Dual D-Type Positive-Edge -Triggered Flip-Flops With Preset And Clear データシート 1988年 3月 1日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 14 Ultra Librarian
CFP (W) 14 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ