SN65220
- サブミクロンの 3V または 5V 回路をノイズ過渡から保護するように設計
- 以下を上回るポート ESD 保護性能：
- 人体モデルで 15kV
- マシン・モデルで 2kV
- WCSP チップ・スケール・パッケージで提供
- スタンドオフ電圧：6V (最小値)
- 低電流リーク：1µA 以下 (6V の場合)
- 低キャパシタンス：35pF (標準値)
SN65220 デバイスはデュアル、SN65240 および SN75240 デバイスはクワッドの単方向過渡電圧サプレッサ (TVS) です。これらのデバイスは、USB (Universal Serial Bus) ロー / フルスピード・ポートに対する電気的ノイズ過渡保護を提供します。入力容量が 35pF であるため、ハイスピード USB 2.0 アプリケーションには適していません。
ケーブル接続されたすべての I/O は、各種ノイズ源からの電気的ノイズの過渡現象にさらされる可能性があります。このようなノイズ過渡は、十分な大きさと持続時間を持つ場合、USB トランシーバまたは USB ASIC に損傷を与える可能性があります。
SN65220、SN65240、SN75240 デバイスの ESD 性能は、IEC61000-4-2 に従ってシステム・レベルで測定されています。しかし、システム設計はこれらの試験の結果に影響を及ぼします。高水準の適合性を達成するには、入念な基板設計およびレイアウト技術が必要です。
技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | SNx52x0 USB ポート過渡電流サプレッサ データシート (Rev. J 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.J) | PDF | HTML | 2022年 9月 21日 |
| セレクション・ガイド | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| アプリケーション・ノート | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 8月 18日 | |||
| ユーザー・ガイド | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 9月 27日 |
設計および開発
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ESDEVM — ESD の評価基板
<p>静電気敏感性デバイス (ESD) の評価基板 (EVM) は、TI の ESD 製品ラインアップのほとんどに対応する開発プラットフォームです。この基板には、任意の数のデバイスをテストできるように、従来型の ESD フットプリントがすべて実装されています。デバイスは、適切なフットプリントに半田付けしてからテストすることができます。</p>
<p>標準的な高速 ESD ダイオードの場合、インピーダンス制御されたレイアウトを実装することで、S パラメータを受け入れ、基板パターンの埋め込みを解除します。高速ではない ESD ダイオードの場合、テスト (...)
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム
TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)
TINA は DesignSoft (...)
TIDA-00782 — DLP® テクノロジーを使用する、ポータブル、高輝度 HD プロジェクション・ディスプレイ、リファレンス・デザイン
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBV) | 6 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。