SN74ABT377A
- State-of-the-Art EPIC-IIBTM BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
- Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
- Typical VOLP (Output Ground Bounce) < 1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
- High-Drive Outputs (-32-mA IOH, 64-mA IOL)
- ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
- Package Options Include Plastic Small-Outline (DW), Shrink Small-Outline (DB), and Thin Shrink Small-Outline (PW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), Plastic (N) and Ceramic (J) DIPs, and Ceramic Flat (W) Package
EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments Incorporated.
These 8-bit positive-edge-triggered D-type flip-flops with a clock (CLK) input are particularly suitable for implementing buffer and storage registers, shift registers, and pattern generators.
Data (D) input information that meets the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock pulse if the common clock-enable () input is low. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the positive-going pulse. When the buffered clock (CLK) input is at either the high or low level, the D-input signal has no effect at the output. The circuits are designed to prevent false clocking by transitions at .
The SN54ABT377 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ABT377A is characterized for operation from -40°C to 85°C.
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技術資料
設計および開発
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14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
PDIP (N) | 20 | Ultra Librarian |
SOIC (DW) | 20 | Ultra Librarian |
SOP (NS) | 20 | Ultra Librarian |
SSOP (DB) | 20 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 20 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点