SN74AC245-EP

アクティブ

エンハンスド製品、3 ステート出力、オクタル バス トランシーバ

製品詳細

Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type CMOS Output type CMOS Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family AC Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type CMOS Output type CMOS Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family AC Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
SOIC (DW) 20 131.84 mm² 12.8 x 10.3
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 6-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 6 V
  • Max tpd of 7 ns at 5 V

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 6-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 6 V
  • Max tpd of 7 ns at 5 V

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The SN74AC245 octal bus transceiver is designed for asynchronous two-way communication between data buses. The control-function implementation minimizes external timing requirements.

When the output-enable (OE)\ is low, the device passes noninverted data from the A bus to the B bus or from the B bus to the A bus, depending on the logic level at the direction control (DIR) input. A high on OE\ disables the device so that the buses are effectively isolated.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The SN74AC245 octal bus transceiver is designed for asynchronous two-way communication between data buses. The control-function implementation minimizes external timing requirements.

When the output-enable (OE)\ is low, the device passes noninverted data from the A bus to the B bus or from the B bus to the A bus, depending on the logic level at the direction control (DIR) input. A high on OE\ disables the device so that the buses are effectively isolated.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン配置が異なる製品
SN74AHCT245-EP アクティブ エンハンスド製品、3 ステート出力、5V、オクタル バス トランシーバ Voltage range (4.5V to 5.5V), average drive strength (8mA), average propagation delay (9ns)
SN74LVC245A-EP アクティブ エンハンスド製品、3 ステート出力、オクタル・バス・トランシーバ Voltage range (1.65V to 3.6V), average drive strength (24mA), average propagation delay (5.5ns)

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
15 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74AC245-EP データシート 2004年 9月 28日
* VID SN74AC245-EP VID V6204760 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
その他の技術資料 HiRel Unitrode Power Management Brochure 2009年 7月 7日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996年 4月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (DW) 20 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ