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SN74ALVCH16820

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デュアル出力、3 ステート出力、3.3V、10 ビット・フリップ・フロップ

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製品詳細

Number of channels 10 Technology family ALVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 3.6 Input type Standard CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 150 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Supply current (max) (µA) 40 Features Balanced outputs, Bus-hold, Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
Number of channels 10 Technology family ALVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 3.6 Input type Standard CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 150 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Supply current (max) (µA) 40 Features Balanced outputs, Bus-hold, Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
TSSOP (DGG) 56 113.4 mm² 14 x 8.1
  • Member of the Texas Instruments Widebus™ Family
  • Bus Hold on Data Inputs Eliminates the Need for External Pullup/Pulldown Resistors
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)

Widebus is a trademark of Texas Instruments.
  • Member of the Texas Instruments Widebus™ Family
  • Bus Hold on Data Inputs Eliminates the Need for External Pullup/Pulldown Resistors
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)

Widebus is a trademark of Texas Instruments.

This 10-bit flip-flop is designed for 1.65-V to 3.6-V VCC operation.

The flip-flops of the SN74ALVCH16820 are edge-triggered D-type flip-flops. On the positive transition of the clock (CLK) input, the device provides true data at the Q outputs.

A buffered output-enable (OE)\ input can be used to place the ten outputs in either a normal logic state (high or low logic level) or the high-impedance state. In the high-impedance state, the outputs neither load nor drive the bus lines significantly. The high-impedance state and increased drive provide the capability to drive bus lines without need for interface or pullup components.

OE\ input does not affect the internal operation of the flip-flops. Old data can be retained or new data can be entered while the outputs are in the high-impedance state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

Active bus-hold circuitry is provided to hold unused or undriven inputs at a valid logic level. Use of pullup or pulldown resistors with the bus-hold circuitry is not recommended.

This 10-bit flip-flop is designed for 1.65-V to 3.6-V VCC operation.

The flip-flops of the SN74ALVCH16820 are edge-triggered D-type flip-flops. On the positive transition of the clock (CLK) input, the device provides true data at the Q outputs.

A buffered output-enable (OE)\ input can be used to place the ten outputs in either a normal logic state (high or low logic level) or the high-impedance state. In the high-impedance state, the outputs neither load nor drive the bus lines significantly. The high-impedance state and increased drive provide the capability to drive bus lines without need for interface or pullup components.

OE\ input does not affect the internal operation of the flip-flops. Old data can be retained or new data can be entered while the outputs are in the high-impedance state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

Active bus-hold circuitry is provided to hold unused or undriven inputs at a valid logic level. Use of pullup or pulldown resistors with the bus-hold circuitry is not recommended.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74ALVCH16820 データシート (Rev. G) 2004年 9月 16日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
アプリケーション・ノート An Overview of Bus-Hold Circuit and the Applications (Rev. B) 2018年 9月 17日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
ユーザー・ガイド ALVC Advanced Low-Voltage CMOS Including SSTL, HSTL, And ALB (Rev. B) 2002年 8月 1日
その他の技術資料 Standard Linear & Logic for PCs, Servers & Motherboards 2002年 6月 13日
アプリケーション・ノート 16-Bit Widebus Logic Families in 56-Ball, 0.65-mm Pitch Very Thin Fine-Pitch BGA (Rev. B) 2002年 5月 22日
アプリケーション・ノート Benefits & Issues of Migrating 5-V and 3.3-V Logic to Lower-Voltage Supplies (Rev. A) 1999年 9月 8日
アプリケーション・ノート TI SN74ALVC16835 Component Specification Analysis for PC100 1998年 8月 3日
アプリケーション・ノート Logic Solutions for PC-100 SDRAM Registered DIMMs (Rev. A) 1998年 5月 13日
アプリケーション・ノート Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

シミュレーション・モデル

SN74ALVCH16820 IBIS Model (Rev. A)

SCEM084A.ZIP (10 KB) - IBIS Model
ダウンロード
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (DGG) 56 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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