ホーム ロジックと電圧変換 フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ D タイプ・フリップ・フロップ
ホーム
ロジックと電圧変換
フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ
D タイプ・フリップ・フロップ

SN74BCT374

アクティブ

オクタル D タイプ・エッジ・トリガ・フリップ・フロップ

ご注文はこちら
データシート

SN74BCT374

アクティブ
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Number of channels 8 Technology family BCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 70 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) -15 Supply current (max) (µA) 60000 Features Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of channels 8 Technology family BCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 70 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) -15 Supply current (max) (µA) 60000 Features Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
PDIP (N) 20 228.702 mm² 24.33 x 9.4 SOIC (DW) 20 131.84 mm² 12.8 x 10.3 SOP (NS) 20 98.28 mm² 12.6 x 7.8
  • 4.5V～5.5V の動作電源電圧範囲
  • BiCMOS 設計 により TTL 設計よりも ICCZ が大幅に削減
  • 読み込み時のフル・パラレル・アクセス
  • バッファ付き制御入力
  • バス・ラインまたはバッファ・メモリ・アドレス・レジスタを駆動できる 3 ステート出力
  • 4.5V～5.5V の動作電源電圧範囲
  • BiCMOS 設計 により TTL 設計よりも ICCZ が大幅に削減
  • 読み込み時のフル・パラレル・アクセス
  • バッファ付き制御入力
  • バス・ラインまたはバッファ・メモリ・アドレス・レジスタを駆動できる 3 ステート出力

SNx4BCT374 デバイスには、8 チャネルの D タイプ・フリップ・フロップが搭載されており、共通のクロック (CLK) および出力イネーブル (OE) ピンがあります。

SNx4BCT374 デバイスには、8 チャネルの D タイプ・フリップ・フロップが搭載されており、共通のクロック (CLK) および出力イネーブル (OE) ピンがあります。
filter その他の D タイプ・フリップ・フロップ を検索
ダウンロード

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
SN74AHCT374 アクティブ 3 ステート出力、オクタル D タイプ・エッジ・トリガ・フリップ・フロップ Larger voltage range (2V to 5.5V)

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
1 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SNx4BCT374 3 ステート出力、オクタル・エッジトリガ D タイプ・ラッチ データシート (Rev. D 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.D) PDF | HTML 2023年 3月 15日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​