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SN74F112

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クリアとプリセット搭載、デュアル、J-K、ネガティブ・エッジ・トリガ・フリップ・フロップ

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SN74F112

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製品詳細

Number of channels 2 Technology family F Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 19000 IOL (max) (mA) 20 IOH (max) (mA) -1 Features Clear, Negative edge triggered, Preset, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family F Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 19000 IOL (max) (mA) 20 IOH (max) (mA) -1 Features Clear, Negative edge triggered, Preset, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 SOP (NS) 16 79.56 mm² 10.2 x 7.8
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages and Standard Plastic 300-mil DIPs

 
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages and Standard Plastic 300-mil DIPs

 

The SN74F112 contains two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset () or clear () inputs sets or resets the outputs regardless of the levels of the other inputs. When and are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. The SN74F112 can perform as a toggle flip-flop by tying J and K high.

The SN74F112 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

 

The SN74F112 contains two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset () or clear () inputs sets or resets the outputs regardless of the levels of the other inputs. When and are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. The SN74F112 can perform as a toggle flip-flop by tying J and K high.

The SN74F112 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

 
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SN74HC112 アクティブ クリアとプリセット搭載、デュアル、J-K、ネガティブ・エッジ・トリガ・フリップ・フロップ Voltage range (2V to 6V), average drive strength (8mA), average propagation delay (20ns)

技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Dual Negative-Edge-Triggered J-K Flip-Flop With Clear And Preset データシート (Rev. A) 1993年 10月 1日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
PDIP (N) 16 Ultra Librarian
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
SOP (NS) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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