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SN74HC10

アクティブ

3 チャネル、3 入力、2V ～ 6V NAND ゲート

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SN74HC10

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製品詳細

Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • バッファ付き入力
  • 広い動作電圧範囲：2V～6V
  • 広い動作温度範囲： -40℃～+85℃
  • 最大 10 個の LSTTL 負荷ファンアウトに対応
  • LSTTL ロジック IC に比べて消費電力を大幅削減
  • バッファ付き入力
  • 広い動作電圧範囲：2V～6V
  • 広い動作温度範囲： -40℃～+85℃
  • 最大 10 個の LSTTL 負荷ファンアウトに対応
  • LSTTL ロジック IC に比べて消費電力を大幅削減

このデバイスには、3 つの独立した 3 入力 NAND ゲートが内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A ● B ● C を正論理で実行します。

このデバイスには、3 つの独立した 3 入力 NAND ゲートが内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A ● B ● C を正論理で実行します。
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CD74HC10 アクティブ 3 チャネル、3 入力、2V ～ 6V NAND ゲート Voltage range (2V to 6V), average drive strength (8mA), average propagation delay (20ns)

技術資料

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設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
シミュレーション・モデル

SN74HC10 Behavioral SPICE Model

SCLM227.ZIP (8 KB) - PSpice Model
ダウンロード
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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