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SN74HC4040

アクティブ

12 ビット非同期バイナリ・カウンタ

製品詳細

Function Counter Bits (#) 12 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
Function Counter Bits (#) 12 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 SOP (NS) 16 79.56 mm² 10.2 x 7.8 SSOP (DB) 16 48.36 mm² 6.2 x 7.8 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • 幅広い動作電圧範囲:2V~6V
  • 出力は最大 10 個の LSTTL 負荷を駆動可能
  • 低い消費電力、最大 ICC 80µA
  • tpd = 12ns (標準値)
  • 5V で ±4mA の出力駆動能力
  • 低い入力電流、最大 1µA
  • 幅広い動作電圧範囲:2V~6V
  • 出力は最大 10 個の LSTTL 負荷を駆動可能
  • 低い消費電力、最大 ICC 80µA
  • tpd = 12ns (標準値)
  • 5V で ±4mA の出力駆動能力
  • 低い入力電流、最大 1µA

’HC4040 デバイスは 12 段非同期バイナリカウンタで、すべての段の出力を外部で使用できます。クリア (CLR) 入力が HIGH レベルになると、非同期でカウンタをクリアし、すべての出力を LOW にリセットします。クロック (CLK) 入力が HIGH から LOW へ遷移するときに、カウントが進みます。アプリケーションとしては、時間遅延回路、カウンタ制御、周波数分割回路があります。

’HC4040 デバイスは 12 段非同期バイナリカウンタで、すべての段の出力を外部で使用できます。クリア (CLR) 入力が HIGH レベルになると、非同期でカウンタをクリアし、すべての出力を LOW にリセットします。クロック (CLK) 入力が HIGH から LOW へ遷移するときに、カウントが進みます。アプリケーションとしては、時間遅延回路、カウンタ制御、周波数分割回路があります。

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
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設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
PDIP (N) 16 Ultra Librarian
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
SOP (NS) 16 Ultra Librarian
SSOP (DB) 16 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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