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SN74HCS00

アクティブ

シュミット トリガ入力、4 チャネル、2 入力、2V ~ 6V、低消費電力、NAND ゲート

製品詳細

Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 130 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 130 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOT-23-THN (DYY) 14 13.692 mm² 4.2 x 3.26 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 WQFN (BQA) 14 7.5 mm² 3 x 2.5
  • 広い動作電圧範囲:2V~6V
  • シュミット・トリガ入力により低速の信号またはノイズの多い信号に対応
  • 低い消費電力
    • ICC:100nA (標準値)
    • 入力リーク電流:±100nA (標準値)
  • 5V で ±7.8mA の出力駆動能力
  • 拡張周囲温度範囲:–40℃~+125℃、TA
  • 広い動作電圧範囲:2V~6V
  • シュミット・トリガ入力により低速の信号またはノイズの多い信号に対応
  • 低い消費電力
    • ICC:100nA (標準値)
    • 入力リーク電流:±100nA (標準値)
  • 5V で ±7.8mA の出力駆動能力
  • 拡張周囲温度範囲:–40℃~+125℃、TA

このデバイスには、シュミット・トリガ入力採用の 4 つの独立した 2 入力 NAND ゲートが内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A ● B を正論理で実行します。

このデバイスには、シュミット・トリガ入力採用の 4 つの独立した 2 入力 NAND ゲートが内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A ● B を正論理で実行します。

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74HCS00 シュミット・トリガ入力採用クワッド 2 入力 NAND ゲート データシート (Rev. C 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.C) PDF | HTML 2022年 2月 22日
アプリケーション概要 Catch a Digital Signal PDF | HTML 2021年 7月 16日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

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シミュレーション・モデル

SN74HCS00 IBIS Model (Rev. B)

SCLM150B.ZIP (51 KB) - IBIS Model
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(...)

設計ガイド: PDF
回路図: PDF
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOT-23-THN (DYY) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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