SN74HCS10

アクティブ

シュミット・トリガ入力採用、トリプル 3 入力 NAND ゲート

製品詳細

Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 130 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 130 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • 広い動作電圧範囲: 2V~6V
  • シュミット・トリガ入力により低速またはノイズの多い入力信号に対応
  • 低消費電力
    • ICC:100nA (標準値)
    • 入力リーク電流:±100nA (標準値)
  • 5V で ±7.8mA の出力駆動能力
  • 拡張周囲温度範囲:–40℃~+125℃、TA
  • 広い動作電圧範囲: 2V~6V
  • シュミット・トリガ入力により低速またはノイズの多い入力信号に対応
  • 低消費電力
    • ICC:100nA (標準値)
    • 入力リーク電流:±100nA (標準値)
  • 5V で ±7.8mA の出力駆動能力
  • 拡張周囲温度範囲:–40℃~+125℃、TA

このデバイスには、3 つの独立した 3 入力 NAND ゲートと、シュミット・トリガ入力が内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A ● B ● C を正論理で実行します。

このデバイスには、3 つの独立した 3 入力 NAND ゲートと、シュミット・トリガ入力が内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A ● B ● C を正論理で実行します。

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技術資料

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* データシート SN74HCS10 シュミット・トリガ入力を搭載したトリプル 3 入力 NAND ゲート データシート PDF | HTML 最新英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2020年 1月 31日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
シミュレーション・モデル

SN74HCS10 Behavioral SPICE Model

SCLM294.ZIP (8 KB) - PSpice Model
シミュレーション・モデル

SN74HCS10 IBIS Model

SCLM155.ZIP (250 KB) - IBIS Model
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

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