ホーム ロジックと電圧変換 フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ シフト・レジスタ

SN74HCS264-Q1

アクティブ

車載対応、8 ビット、シリアル入力、パラレル出力、シフト レジスタ

製品詳細

Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 62 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 2 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 62 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 2 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • 7.8-mA output drive at 6 V
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • 7.8-mA output drive at 6 V

The device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum setup time requirements are met. All inputs include Schmitt-trigger architecture, adding noise margin and eliminating any input transition rate requirement. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK.

Upon a clock trigger, the device will store the result of the (A ● B) input data line in the first register and propagate each register’s data to the next register. The outputs are inverted from the data stored.

The device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum setup time requirements are met. All inputs include Schmitt-trigger architecture, adding noise margin and eliminating any input transition rate requirement. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK.

Upon a clock trigger, the device will store the result of the (A ● B) input data line in the first register and propagate each register’s data to the next register. The outputs are inverted from the data stored.

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
新規 SN74AC164-Q1 アクティブ 車載、1.5V ~ 6V、8 ビット、シリアル入力 / パラレル出力、シフト レジスタ Shorter average propagation delay (6ns), higher average drive strength (24mA)

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
1 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74HCS264-Q1 車載8ビット、シリアル入力/パラレル出力シフト・レジスタ データシート 2020年 7月 13日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
シミュレーション・モデル

SN74HCS264 IBIS Model

SCEM773.ZIP (51 KB) - IBIS Model
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ