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SN74HCT374

アクティブ

3 ステート出力、オクタル D タイプ・エッジ・トリガ・フリップ・フロップ

製品詳細

Number of channels 8 Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 28 IOL (max) (mA) 6 IOH (max) (mA) -6 Supply current (max) (µA) 80 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
Number of channels 8 Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 28 IOL (max) (mA) 6 IOH (max) (mA) -6 Supply current (max) (µA) 80 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
PDIP (N) 20 228.702 mm² 24.33 x 9.4 SOIC (DW) 20 131.84 mm² 12.8 x 10.3 SOP (NS) 20 98.28 mm² 12.6 x 7.8 SSOP (DB) 20 56.16 mm² 7.2 x 7.8 TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • 4.5V~5.5V の動作電源電圧範囲
  • 大電流 3 ステート出力により最大 15 個の LSTTL 負荷を駆動可能
  • 低消費電力、ICC:80µA 以下
  • tpd = 22ns (標準値)
  • 5V で ±6mA の出力駆動能力
  • 低い入力電流:最大 1µA
  • 入力は TTL 電圧互換
  • 8 個の D タイプ・フリップ・フロップを 1 つのパッケージに搭載
  • 読み込み時の完全並列アクセス
  • 4.5V~5.5V の動作電源電圧範囲
  • 大電流 3 ステート出力により最大 15 個の LSTTL 負荷を駆動可能
  • 低消費電力、ICC:80µA 以下
  • tpd = 22ns (標準値)
  • 5V で ±6mA の出力駆動能力
  • 低い入力電流:最大 1µA
  • 入力は TTL 電圧互換
  • 8 個の D タイプ・フリップ・フロップを 1 つのパッケージに搭載
  • 読み込み時の完全並列アクセス
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
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設計および開発

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評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
PDIP (N) 20 Ultra Librarian
SOIC (DW) 20 Ultra Librarian
SOP (NS) 20 Ultra Librarian
SSOP (DB) 20 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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