SN74LV11A-EP
- Controlled Baseline
- One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
- Extended Temperature Performance of –40°C to 105°C
- Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
- Enhanced Product-Change Notification
- Qualification Pedigree
- 2-V to 5.5-V VCC Operation
- Typical VOLP (Output Ground Bounce)
<0.8 V at VCC= 3.3 V, TA = 25°C - Typical VOHV (Output VOH Undershoot)
>2.3 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C - Supports Mixed-Mode Voltage Operation on All Ports
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
This triple 3-input positive-AND gate is designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.
The SN74LV11A performs the Boolean function Y = A B C or Y = (A\ + B\ + C\)\ in positive logic.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | SN74LV11A-EP データシート (Rev. A) | 2004年 5月 11日 | |||
* | VID | SN74LV11A-EP VID V6204692 | 2016年 6月 21日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点