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SN74LVC1G3208-EP

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エンハンスド製品、シングル、3 入力正論理 OR-AND ゲート

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SN74LVC1G3208-EP

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製品詳細

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm² 2.9 x 2.8
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
  • Max tpd of 5 ns at 3.3 V
  • Low Power Consumption, 12.5-µA Max ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Input Hysteresis Allows Slow Input Transition and Better Switching
    Noise Immunity (Vhys = 250 mV Typ at 3.3 V)
  • Can Be Used in Three Combinations:
    • OR-AND Gate
    • OR Gate
    • AND Gate
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
  • Max tpd of 5 ns at 3.3 V
  • Low Power Consumption, 12.5-µA Max ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Input Hysteresis Allows Slow Input Transition and Better Switching
    Noise Immunity (Vhys = 250 mV Typ at 3.3 V)
  • Can Be Used in Three Combinations:
    • OR-AND Gate
    • OR Gate
    • AND Gate
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation

This device is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LVC1G3208 is a single 3-input positive OR-AND gate. It performs the Boolean function Y = (A + B) • C in positive logic.

By tying one input to GND or VCC, the SN74LVC1G3208 offers two more functions. When C is tied to VCC, this device performs as a 2-input OR gate (Y = A + B). When A is tied to GND, the device works as a 2-input AND gate (Y = B ⋅ C). This device also works as a 2-input AND gate when B is tied to GND (Y = A • C).

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

This device is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LVC1G3208 is a single 3-input positive OR-AND gate. It performs the Boolean function Y = (A + B) • C in positive logic.

By tying one input to GND or VCC, the SN74LVC1G3208 offers two more functions. When C is tied to VCC, this device performs as a 2-input OR gate (Y = A + B). When A is tied to GND, the device works as a 2-input AND gate (Y = B ⋅ C). This device also works as a 2-input AND gate when B is tied to GND (Y = A • C).

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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SN74LVC1G08-Q1 アクティブ 車載対応、1 チャネル、2 入力、1.65V ～ 5.5V、32mA のドライブ能力、AND ゲート Voltage range (1.65V to 5.5V), average drive strength (24mA), average propagation delay (5.5ns)

技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74LVC1G3208-EP シングル、3入力 正電圧 OR-AND ゲート データシート (Rev. A) 2013年 2月 14日
* 放射線と信頼性レポート SN74LVC1G3208-EP Reliability Report 2018年 5月 25日
* VID SN74LVC1G3208-EP VID V6213605 2016年 6月 21日
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アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート LVC Characterization Information 1996年 12月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
設計ガイド Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 1996年 9月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOT-23 (DBV) 6 Ultra Librarian
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
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