この製品には新バージョンがあります。
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
比較対象デバイスと類似の機能
TL750M-Q1
- Qualified for Automotive Applications
- Low Dropout Voltage, Less Than 0.6 V at 750 mA
- Low Quiescent Current
- TTL- and CMOS-Compatible Enable on TL751M Series
- Load-Dump Protection
- Overvoltage Protection
- Internal Thermal Overload Protection
- Internal Overcurrent-Limiting Circuitry
The TL750M and TL751M series are low-dropout positive voltage regulators specifically designed for automotive applications. The TL750M and TL751M series incorporate onboard overvoltage and current-limiting protection circuitry to protect the devices and the regulated system. Both series are fully protected against load-dump and reverse-battery conditions. Load-dump protection is up to a maximum of 60 V at the input of the device. Low quiescent current, even during full-load conditions, makes the TL750M and TL751M series ideal for use in applications that are permanently connected to the vehicle battery.
The TL750M and TL751M series offers 5-V, 8-V, and 12-V options. The TL751M series has the addition of an enable (ENABLE) input. The ENABLE input gives complete control over power up, allowing sequential power up or shutdown. When ENABLE is high, the regulator output is placed in the high-impedance state. The ENABLE input is TTL and CMOS compatible.
The TL750Mxx and TL751Mxx are characterized for operation over the virtual junction temperature range –40°C to 125°C.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | TL750Mxx-Q1, TL751Mxx-Q1 Low-Dropout Voltage Regulators データシート (Rev. J) | 2011年 6月 16日 | |||
アプリケーション・ノート | LDO Noise Demystified (Rev. B) | PDF | HTML | 2020年 8月 18日 | |||
アプリケーション・ノート | LDO PSRR Measurement Simplified (Rev. A) | PDF | HTML | 2017年 8月 9日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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TO-252 (KVU) | 3 | Ultra Librarian |
TO-263 (KTT) | 3 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。