TRF37D73
- 1 MHz – 6000 MHz
- Gain: 19.5 dB
- Noise Figure: 3.25 dB
- Output P1dB: 16.5 dBm at 2000 MHz
- Output IP3: 28 dBm at 2000 MHz
- Power Down Mode
- Single Supply: 3.3 V
- Stabilized Performance Over Temperature
- Unconditionally Stable
- Robust ESD: >1 kV HBM; >1 kV CDM
The TRF37D73 is packaged in a 2.00mm × 2.00mm WSON with a power down pin feature making it ideal for applications where space and low power modes are critical.
The TRF37D73 is designed for ease of use. For maximum flexibility, this family of parts uses a common 3.3 V supply and consumes 53 mA. In addition, this family was designed with an active bias circuit that provides a stable and predictable bias current over process, temperature and voltage variations. For gain and linearity budgets the device was designed to provide a flat gain response and excellent OIP3 out to 6000 MHz. For space constrained applications, this family is internally matched to 50 Ω, which simplifies ease of use and minimizes needed PCB area.
For all available packages, see the orderable addendum at the end of the datasheet.お客様が関心を持ちそうな類似品
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TRF37D73 1-6000 MHz RF Gain Block データシート | PDF | HTML | 2014年 5月 30日 | ||
| ユーザー・ガイド | TRF37x73 and TRF37x75 EVM User’s Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 5月 4日 | |||
| ユーザー・ガイド | TRF37x73 and TRF37x75 EVM User’s Guide | 2014年 3月 26日 |
設計および開発
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TRF37D73EVM — TRF37D73 の評価基板
The TRF37X73EVM evaluation module is intended for the evaluation of the TRF37x73 RF gain blocks. The gain blocks come in multiple gain versions. See each respective product datasheet to be sure you are ordering the correct gain block for the gain and frequency of intended operation.
TIDA-00347 — Low Frequency RF Amplifier Reference Design
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| WSON (DSG) | 8 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。