CD4081B
- Medium-Speed Operation - tPLH, tPHL = 60 ns (typ.) at VDD = 10 V
- 100% tested for quiescent current at 20 V
- Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range: 100 nA at 18 V and 25°C
- Noise margin (full package-temperature range) =
- 1 V at VDD = 5 V
- 2 V at VDD = 10 V
- 2.5 V at VDD = 15 V
- Standardized, symmetrical output characteristics
- 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
- Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
CD4073B Triple 3-Input AND Gate
CD4081B Quad 2-Input AND Gate
CD4082B Dual 4-Input AND Gate
Data sheet acquired from Harris Semiconductor
CD4073B, CD4081B and CD4082B AND gates, provide the system designer with direct implementation of the AND function and supplement the existing family of CMOS gates.
The CD4073B, CD4081B, and CD4082B types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
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技術文件
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| * | Data sheet | CD4073B, CD4081B, CD4082B TYPES datasheet (Rev. C) | 2003年 8月 21日 | |
| Selection guide | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||
| Application note | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||
| User guide | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||
| Application note | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||
| User guide | Signal Switch Data Book (Rev. A) | 2003年 11月 14日 | ||
| Application note | Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics | 2001年 12月 3日 |
設計與開發
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開發板
14-24-LOGIC-EVM — 適用於 14 針腳至 24 針腳 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封裝的邏輯產品通用評估模組
14-24-LOGIC-EVM 評估模組 (EVM) 設計用於支援任何 14 針腳至 24 針腳 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封裝的任何邏輯裝置。
參考設計
TIDA-01051 — 針對自動測試設備最佳化 FPGA 利用率和數據處理能力的參考設計
The TIDA-01051 reference design is used to demonstrate optimized channel density, integration, power consumption, clock distribution and signal chain performance of very high channel count data acquisition (DAQ) systems such as those used in automatic test equipment (ATE). Using serializers, such (...)
| 封裝 | 針腳 | CAD 符號、佔位空間與 3D 模型 |
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