TIDA-00070
A/D コンバータの出力語におけるビット・エラーの測定用 FPGA ファームウェア・プロジェクト
TIDA-00070
概要
ビット誤差や結果として発生するサンプル誤差（スパークル・コード、ワード誤差、またはコード誤差とも呼ばれる）が存在するアプリケーションでは、このようなビット誤差によって発生する誤差率を測定できる機能が重要となります。この FPGA ファームウェア・ベースのアプリケーション・ノートでは、不特定な期間にわたってこれらの誤差を正確に測定する方法を紹介するほか、シンプルな FPGA プラットフォームを使用して測定を行う方法の例を示します。アプリケーション・ノートに記載されている 2 つの例で使用しているコードは、請求することで入手可能です。
特長
- 誤差率がどのように指定されているか、またその仕様の意味を説明
- ADC の正確な誤差率を測定する目的で、不特定な期間にわたってサンプル誤差を測定するための新しいアプローチの概要を説明
- ベンチにおいてさまざまな条件下でビット誤差を測定できる機能を顧客に提供
- TI の低コスト FPGA プラットフォーム用のファームウェア（長期にわたって誤差率を監視するためのシンプルな GUI 付き）が利用可能
産業用
組み立てられたボードは、テストと性能検証のみの目的で開発されたものであり、販売していません。
設計ファイルと製品
設計ファイル
すぐに使用できるシステム・ファイルをダウンロードすると、設計プロセスを迅速化できます。
TIDR317.PDF (119 K)
設計に使用したコンポーネント、参照指定子、メーカー名や型番などを記入した詳細なリスト
技術資料
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| 種類 | タイトル | 英語版のダウンロード | 日付 | |||
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| ユーザー・ガイド | TIDA-00070 Verified Design Reference Guide | 2013年 1月 23日 |