TI Precision Labs 研討會

簡介、工具、新裝置

TI 廣泛的放大器產品組合概覽、用於選擇與分析的工具，以及新裝置。 

放大器基礎與規格

本課程針對如何預測因 Vos、Ib 和溫度漂移而產生的誤差，以及這些誤差來源的內部起源提供了相關指引。檢視 Iq、電壓轉換速率和頻寬的動態行為概覽。進行產品規格表規格的相關討論。 

進階放大器技術

針對 CMOS、雙極和 JFET 放大器之間的差異提供一般概覽。介紹零交越和零飄移等現代放大器技術改進。討論基本製程差異，因為其攸關放大器性能。

輸入電壓雜訊、輸入電流雜訊及濾波技術 

透過計算與模擬來預測放大器與電阻雜訊。定義雜訊增益、雜訊頻寬、電流及電壓雜訊頻譜密度，以及總 RMS 雜訊。解釋閃爍與寬頻雜訊。比較實際測量結果和計算結果。 

電路穩定性分析及補償機制 

在運算放大器反相節點上驅動電容負載或具有過多電容，可能會導致振盪。此簡報展現如何使用模擬來預測放大器穩定性，並且討論修正問題的方法。 

比較器應用

針對比較器的基本運作提供一般概覽。 主題包括說明比較器特有的規格、比較器的不同類型和選項，以及常見的客戶應用問題。