我們適用於 X 光平板偵測器、充電偵測和電容量測系統的高通道數 AFE，整合了多達 256 個積分器、可編程增益放大器、相關雙取樣器和高速充電轉數位類比轉數位轉換器 (ADC)。這些產品以覆晶式薄膜封裝或晶粒提供，提供了多種充電範圍和掃描時間選項，讓設計師能在靜態、半動態、動態、非破壞檢測以及醫療和牙科應用中，做出功率和性能上的取捨。
為何選擇我們的數位 X 光 AFE？
簡化系統設計
透過單一電源供應機制與高度整合，簡化電路板配置並節省更多空間。
提升系統性能
節省功耗並提高系統幀率和成像品質。
相容的產品方案可滿足多個市場
針腳、封裝與軟體相容的產品系列，可為客戶提供單一平台方法，以滿足各種靜態、動態及高充電範圍應用。