JAJSSQ1 October   2024 AMC0380D-Q1

ADVANCE INFORMATION  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5.   Device Comparison Table
  6. 4 Pin Configuration and Functions
  7. 5 Specifications
    1. 5.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2  ESD Ratings
    3. 5.3  Recommended Operating Conditions
    4. 5.4  Thermal Information
    5. 5.5  Power Ratings
    6. 5.6  Insulation Specifications
    7. 5.7  Safety-Related Certifications
    8. 5.8  Safety Limiting Values
    9. 5.9  Electrical Characteristics
    10. 5.10 Switching Characteristics
    11. 5.11 Timing Diagram
  8. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Analog Input
      2. 6.3.2 Isolation Channel Signal Transmission
      3. 6.3.3 Analog Output
    4. 6.4 Device Functional Modes
  9. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Best Design Practices
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
  10. 8 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 8.1 ドキュメントのサポート
      1. 8.1.1 関連資料
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 商標
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  11. 9 Revision History
  12. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information
    1. 10.1 Mechanical Data

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • DFX|15
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.5 静電気放電に関する注意事項

AMC0380D-Q1 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。