JAJSGP9G October   2011  – August 2023 BQ25504

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 概要 (続き)
  7. 6 Pin Configuration and Functions
  8. 7 Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Typical Characteristics
  9. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Maximum Power Point Tracking
      2. 8.3.2 Battery Undervoltage Protection
      3. 8.3.3 Battery Overvoltage Protection
      4. 8.3.4 Battery Voltage in Operating Range (VBAT_OK Output)
      5. 8.3.5 Nano-Power Management and Efficiency
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Cold-Start Operation (VSTOR < VSTOR_CHGEN, VIN_DC > VIN(CS) and PIN > PIN(CS))
      2. 8.4.2 Main Boost Charger Enabled (VSTOR > VSTOR_CHGEN, VIN_DC > VIN(DC) and EN = LOW )
      3. 8.4.3 Thermal Shutdown
  10. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Storage Element Selection
      2. 9.1.2 Inductor Selection
      3. 9.1.3 Capacitor Selection
        1. 9.1.3.1 VREF_SAMP Capacitance
        2. 9.1.3.2 VIN_DC Capacitance
        3. 9.1.3.3 VSTOR Capacitance
        4. 9.1.3.4 Additional Capacitance on VSTOR or VBAT
    2. 9.2 Typical Applications
      1. 9.2.1 Solar Application Circuit
        1. 9.2.1.1 Design Requirements
        2. 9.2.1.2 Detailed Design Procedure
        3. 9.2.1.3 Application Curves
      2. 9.2.2 TEG Application Circuit
        1. 9.2.2.1 Design Requirements
        2. 9.2.2.2 Detailed Design Procedure
        3. 9.2.2.3 Application Curves
      3. 9.2.3 MPPT Disabled, Low Impedance Source Application Circuit
        1. 9.2.3.1 Design Requirements
        2. 9.2.3.2 Detailed Design Procedure
        3. 9.2.3.3 Application Curves
  11. 10Power Supply Recommendations
  12. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
    3. 11.3 Thermal Considerations
  13. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 Device Support
      1. 12.1.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
      2. 12.1.2 Zip Files
    2. 12.2 Documentation Support
      1. 12.2.1 Related Documentation
    3. 12.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 12.4 サポート・リソース
    5. 12.5 Trademarks
    6. 12.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 12.7 用語集
  14. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

12.6 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。