JAJSJB0K August 1998 – June 2020 CD4049UB , CD4050B
PRODUCTION DATA
- 1 特長
- 2 アプリケーション
- 3 説明
- 4 Revision History
- 5 Pin Configuration and Functions
- 6 Specifications
- 7 Parameter Measurement Information
- 8 Detailed Description
- 9 Application and Implementation
- 10Power Supply Recommendations
- 11Layout
- 12Device and Documentation Support
- 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information
パッケージ・オプション
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
- PW|16
- NS|16
- N|16
- DW|16
- D|16
サーマルパッド・メカニカル・データ
- DW|16
発注情報
7.1 Test Circuits
Figure 7-1 Quiescent Device Current Test Circuit
Measure inputs sequentially, to both VCC and VSS connect all unused inputs to either VCC or VSS.
Figure 7-3 Input Current Test Circuit
CL includes fixture capacitance.
Figure 7-5 Dynamic Power Dissipation Test Circuits
Test any one input with other inputs at VCC or VSS.
Figure 7-2 Input Voltage Test Circuit
IN Pin: A, B, C, D, E, or F
OUT Pin: G, H, I, J, K, or L
VCC Pin
VSS Pin
Figure 7-4 Logic Level Conversion Application