4 Revision History
Changes from Revision E (April 2018) to Revision F (February 2022)
- 超薄型プロファイルの箇条書き項目を、高さ 0.35mm から 0.36mm に変更。Go
- 超薄型プロファイルの画像の高さを 0.35mm から 0.36mm に更新。Go
- Changed ultra-low profile image height from 0.35 mm to 0.36
mm.Go
- Added FemtoFET Surface Mount Guide note.Go
Changes from Revision D (Decermber 2016) to Revision E (April 2018)
- Raised IDSS Test Condition VoltageGo
- Raised IGSS Test Condition VoltageGo