電流の測定は多くの場合ノイズがあり、ノイズの定義も困難なことがあります。INA234 では、Configuration レジスタ (0h) で変換時間と平均値の数を別々に選択でき、複数のフィルタリング・オプションを選択できます。変換時間はシャント電圧とバス電圧の測定値に対して個別に設定できるため、電源バスの監視を柔軟に構成できます。

内部 ADC は、500kHz (最大 ±10%) のサンプリング・レートを持つデルタ・シグマ (ΔΣ) フロント・エンドをベースにしています。このアーキテクチャは本質的にノイズ除去に優れていますが、サンプリング・レートの高調波、またはその付近で発生する過渡が問題を起こす可能性があります。これらの信号は 1MHz 以上なので、デバイスの入力時にフィルタリングを組み入れることで管理できます。周波数が高いため、測定値の精度にほぼ影響を与えず、フィルタ上に値の小さい直列抵抗を使用できます。一般に、デバイス入力のフィルタリングは、500kHz (最大 ±10%) のサンプリング・レートの正確な高調波 (1MHz より高い) で過渡が発生している場合にのみ必要です。可能な限り小さい値の直列抵抗 (標準で 100Ω 以下) とセラミック・コンデンサを使用して、フィルタリングを行います。このコンデンサの推奨値は、0.1μF～1μF です。図 8-1 に、入力にフィルタを追加したデバイスを示します。

図 8-1 入力フィルタリング

デバイス入力に対しては、さらに過負荷状態も考慮します。デバイス入力は、入力間で 26V を許容するよう規定されています。大きな差動シナリオでは、シャントの負荷側でグランドに短絡していることがあります。この種類のイベントが発生した場合、シャント両端に電源電圧がフルに印加される可能性があります (電源またはエネルギー保存コンデンサがその電圧をサポートできる場合)。グランドへの短絡を除去すると、誘導性キックバックが発生して、デバイスの 26V の差動、または 28V の同相の定格を超える可能性があります。誘導性キックバック電圧は、十分なエネルギー保存コンデンサと組み合わせたツェナー型過渡吸収デバイス (一般に transzorbs といいます) によって最適に制御されます。過渡堅牢性を備えた電流シャント・モニタのリファレンス・デザインでは、電流検出抵抗の両端で発生する電圧を測定するために使用するハイサイド電流シャント・モニタと、過渡過電圧状態から電流検出デバイスをより適切に保護する方法について説明しています。

シャントの片側または両側に、大容量のエネルギー保存用の電解コンデンサがないアプリケーションでは、入力に対して電圧の過剰な dV/dt が印加され、入力オーバーストレス状態が発生する可能性があります。このイベントの原因として最も多いのが物理的な短絡で、dV/dt が過剰な場合は大電流によってシステムで ESD 保護がアクティブになる可能性があります。デバイスの各入力と直列に 10Ω の抵抗を追加すると、デバイスの定格である最大 28V までの dV/dt 障害に対して十分な保護を行えることが、テストにより示されています。これらの抵抗を記載されている範囲内で選択することにより、精度への影響を最小限に抑えることができます。