JAJSFM2H April 2018 – June 2024 ISO1410 , ISO1412 , ISO1430 , ISO1432 , ISO1450 , ISO1452
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
| パラメータ | テスト条件 | 仕様 | 単位 | |
|---|---|---|---|---|
| DW-16 | ||||
| IEC 60664-1 | ||||
| CLR | 外部空間距離(1) | 空気を通したサイド 1 とサイド 2 の距離 | >8 | mm |
| CPG | 外部沿面距離(1) | パッケージ表面上でのサイド 1 とサイド 2 の距離 | >8 | mm |
| DTI | 絶縁物を介した距離 | 最小内部ギャップ (内部空間距離) | >17 | μm |
| CTI | 比較トラッキング インデックス | IEC 60112、UL 746A | >600 | V |
| 材料グループ | IEC 60664-1 に準拠 | I | ||
| 過電圧カテゴリ | 定格商用電源 VRMS が 600 V 以下 | I-IV | ||
| 定格商用電源 VRMS が 1000V 以下 | I-III | |||
| DIN VDE V 0884-11:2017-01(2) | ||||
| VIORM | 最大反復ピーク絶縁電圧 | AC 電圧 (バイポーラ) | 1500 | VPK |
| VIOWM | 最大動作絶縁電圧 | AC 電圧 (正弦波)、絶縁膜経時破壊 (TDDB)、テスト (図 10-7 を参照) | 1060 | VRMS |
| DC 電圧 | 1500 | VDC | ||
| VIOTM | 最大過渡絶縁電圧 | VTEST = VIOTM、t = 60s (認定時テスト)、VTEST = 1.2 × VIOTM、t = 1s (100% 出荷時テスト) | 7071 | VPK |
| VIOSM | 最大サージ絶縁電圧 ISO141x(3) | IEC 62368-1 準拠のテスト方法、1.2/50μs 波形、VTEST = 1.6 × VIOSM = 10000VPK (認定) | 6250 | VPK |
| 最大サージ絶縁電圧 ISO141xB(3) | IEC 62368-1 準拠のテスト方法、1.2/50μs 波形、VTEST = 1.3 × VIOSM = 6000VPK (認定) | 4615 | VPK | |
| qpd | 見掛けの電荷(4) | 方法 a：I/O 安全テスト サブグループ 2/3 の後、Vini = VIOTM、tini = 60s、Vpd(m) = 1.2 × VIORM、tm = 10s | ≤ 5 | pC |
| 方法 a：環境テスト サブグループ 1 の後、Vini = VIOTM、tini = 60s、 ISO14xx：Vpd(m) = 1.6 × VIORM、tm = 10s ISO14xxB：Vpd(m) = 1.2 × VIORM、tm = 10s | ≤ 5 | |||
| 方法 b1：ルーチン テスト (100% 出荷時テスト) およびプリコンディショニング (タイプ テスト) で、Vini = VIOTM、tini = 1s、 ISO14xx：Vpd(m) = 1.875 × VIORM、tm = 1s ISO14xxB：Vpd(m) = 1.5 × VIORM、tm = 1s | ≤ 5 | |||
| CIO | 絶縁バリア容量、入力から出力へ (5) | VIO = 0.4 × sin (2πft)、f = 1MHz | 1 | pF |
| RIO | 絶縁抵抗、入力から出力へ(5) | VIO = 500V、TA = 25℃ | > 1012 | Ω |
| VIO = 500V (100℃ ≦ TA ≦ 150℃時) | > 1011 | |||
| VIO = 500V (TS = 150℃時) | > 109 | |||
| 汚染度 | 2 | |||
| 耐候性カテゴリ | 40/125/21 | |||
| UL 1577 | ||||
| VISO | 絶縁耐圧 | VTEST = VISO、t = 60s (認定)、 VTEST = 1.2 × VISO、t = 1s (100% 出荷時) | 5000 | VRMS |