JAJSCI3
September 2016
ISO5851-Q1
PRODUCTION DATA.
1
特長
2
アプリケーション
3
概要
4
改訂履歴
5
概要(続き)
6
Pin Configuration and Function
7
Specifications
7.1
Absolute Maximum Ratings
7.2
ESD Ratings
7.3
Recommended Operating Conditions
7.4
Thermal Information
7.5
Power Rating
7.6
Insulation Characteristics
7.7
Safety Limiting Values
7.8
Safety-Related Certifications
7.9
Electrical Characteristics
7.10
Switching Characteristics
7.11
Safety and Insulation Characteristics Curves
7.12
Typical Characteristics
8
Parameter Measurement Information
9
Detailed Description
9.1
Overview
9.2
Functional Block Diagram
9.3
Feature Description
9.3.1
Supply and active Miller clamp
9.3.2
Active Output Pull-down
9.3.3
Undervoltage Lockout (UVLO) with Ready (RDY) Pin Indication Output
9.3.4
Fault (FLT) and Reset (RST)
9.3.5
Short Circuit Clamp
9.4
Device Functional Modes
10
Application and Implementation
10.1
Application Information
10.2
Typical Applications
10.2.1
Design Requirements
10.2.2
Detailed Design Procedure
10.2.2.1
Recommended ISO5851-Q1 Application Circuit
10.2.2.2
FLT and RDY Pin Circuitry
10.2.2.3
Driving the Control Inputs
10.2.2.4
Local Shutdown and Reset
10.2.2.5
Global-Shutdown and Reset
10.2.2.6
Auto-Reset
10.2.2.7
DESAT Pin Protection
10.2.2.8
DESAT Diode and DESAT Threshold
10.2.2.9
Determining the Maximum Available, Dynamic Output Power, POD-max
10.2.2.10
Example
10.2.2.11
Higher Output Current Using an External Current Buffer
10.2.3
Application Curve
11
Power Supply Recommendations
12
Layout
12.1
Layout Guidelines
12.2
PCB Material
12.3
Layout Example
13
デバイスおよびドキュメントのサポート
13.1
ドキュメントのサポート
13.1.1
関連資料
13.2
ドキュメントの更新通知を受け取る方法
13.3
コミュニティ・リソース
13.4
商標
13.5
静電気放電に関する注意事項
13.6
Glossary
14
メカニカル、パッケージ、および注文情報
パッケージ・オプション
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
DW|16
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報
jajsci3_oa
8 Parameter Measurement Information
Figure 38. OUT Propagation Delay, Non-Inverting Configuration
Figure 39. OUT Propagation Delay, Inverting Configuration
Figure 40. DESAT, OUT,
FLT
,
RST
Delay
Figure 41. Common-Mode Transient Immunity Test Circuit