JAJSFX1F December   2010  – August 2018 LM137QML

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      概略回路図
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2  ESD Ratings
    3. 6.3  Recommended Operating Conditions
    4. 6.4  Thermal Information
    5. 6.5  Quality Conformance Inspection
    6. 6.6  LM137H 883 Electrical Characteristics DC Parameters
    7. 6.7  LM137H 883 Electrical Characteristics AC Parameters
    8. 6.8  LM137K 883 Electrical Characteristics DC Parameters
    9. 6.9  LM137K 883 Electrical Characteristics AC Parameters
    10. 6.10 LM137H RH Electrical Characteristics DC Parameters 5962P9951708VXA
    11. 6.11 LM137H RH Electrical Characteristics AC Parameters 5962P9951708VXA
    12. 6.12 LM137H RH Electrical Characteristics DC Parameters Drift Values 5962P9951708VXA
    13. 6.13 LM137H RH Electrical Characteristics DC Parameters Post Radiation Limits +25°C 5962P9951708VXA
    14. 6.14 Typical Performance Characteristics
  7. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Functional Block Diagram
  8. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information and Schematic Diagram
    2. 8.2 Typical Applications
  9. 9 Power Supply Recommendations
    1. 9.1 Thermal Regulation
  10. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 10.2 コミュニティ・リソース
    3. 10.3 商標
    4. 10.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 10.5 Glossary
  11. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

6.5 Quality Conformance Inspection

Table 1. Mil-Std-883, Method 5005 — Group A(3)

SUBGROUP DESCRIPTION TEMP (°C)
1 Static tests at +25
2 Static tests at +125
3 Static tests at -55
4 Dynamic tests at +25
5 Dynamic tests at +125
6 Dynamic tests at -55
7 Functional tests at +25
8A Functional tests at +125
8B Functional tests at -55
9 Switching tests at +25
10 Switching tests at +125
11 Switching tests at -55