JAJSSE1C August   2008  – January 2024 LM26NV

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 動作定格
    3. 5.3 LM26NV の電気的特性
  7. 6 詳細説明
    1. 6.1 機能ブロック図
    2. 6.2 機能説明
      1. 6.2.1 LM26NV オプション
      2. 6.2.2 出力ピン オプションのブロック図
  8. 7 アプリケーションと実装
    1. 7.1 アプリケーション情報
      1. 7.1.1 ノイズの考慮事項
      2. 7.1.2 取り付けに関する考慮事項
    2. 7.2 代表的なアプリケーション
  9. 8 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 8.1 デバイス命名規則
    2. 8.2 ドキュメントのサポート
    3. 8.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 8.4 サポート・リソース
    5. 8.5 商標
    6. 8.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 8.7 用語集
  10. 9 改訂履歴
  11. 10メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.6 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。