JAJSRB9 September   2023 LM74700D-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 Pin Configuration and Functions
  7. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
  8. 7 Typical Characteristics
  9. 8 Parameter Measurement Information
  10. 9 Detailed Description
    1. 9.1 Overview
    2. 9.2 機能ブロック図
    3. 9.3 Feature Description
      1. 9.3.1 Input Voltage
      2. 9.3.2 Charge Pump
      3. 9.3.3 Gate Driver
      4. 9.3.4 Enable
    4. 9.4 Device Functional Modes
      1. 9.4.1 Shutdown Mode
      2. 9.4.2 Conduction Mode
        1. 9.4.2.1 Regulated Conduction Mode
        2. 9.4.2.2 Full Conduction Mode
        3. 9.4.2.3 Reverse Current Protection Mode
  11. 10Application and Implementation
    1. 10.1 Application Information
    2. 10.2 Typical Application
      1. 10.2.1 Design Requirements
      2. 10.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 10.2.2.1 Design Considerations
        2. 10.2.2.2 MOSFET Selection
        3. 10.2.2.3 Charge Pump VCAP, Input and Output Capacitance
      3. 10.2.3 Selection of TVS Diodes for 12-V Battery Protection Applications
      4. 10.2.4 Selection of TVS Diodes and MOSFET for 24-V Battery Protection Applications
      5. 10.2.5 Application Curves
      6. 10.2.6 OR-ing Application Configuration
    3. 10.3 Power Supply Recommendations
    4. 10.4 Layout
      1. 10.4.1 Layout Guidelines
      2. 10.4.2 Layout Example
  12. 11Device and Documentation Support
    1. 11.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 11.2 サポート・リソース
    3. 11.3 Trademarks
    4. 11.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 11.5 用語集
  13. 12Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ

11.4 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。