JAJSO67 january 2023 MCT8329A
PRODUCTION DATA
パラメータ | テスト条件 | 最小値 | 公称値 | 最大値 | 単位 | |
---|---|---|---|---|---|---|
スタンダード・モード | ||||||
fSCL | SCL クロック周波数 | 0 | 100 | kHz | ||
tHD_STA | (繰り返し) START 条件のホールド時間 | この時間が経過すると、最初のクロック・パルスが生成されます。 | 4 | µs | ||
tLOW | SCL クロックの Low の時間 | 4.7 | µs | |||
tHIGH | SCL クロックの High の時間 | 4 | µs | |||
tSU_STA | 繰り返し START 条件のセットアップ時間 | 4.7 | µs | |||
tHD_DAT | データ・ホールド時間 (1) | I2C バス・デバイス | 0 (2) | (3) | µs | |
tSU_DAT | データ・セットアップ時間 | 250 | ns | |||
tr | SDA 信号と SCL 信号の両方の立ち上がり時間 | 1000 | ns | |||
tf | SDA 信号と SCL 信号の両方の立ち下がり時間 (2)(5)(6)(7) | 300 | ns | |||
tSU_STO | STOP 条件のセットアップ時間 | 4 | µs | |||
tBUF | STOP 条件と START 条件の間のバス解放時間 | 4.7 | µs | |||
Cb | 各バス・ラインの容量性負荷 (8) | 400 | pF | |||
tVD_DAT | データ有効時間 (9) | 3.45 (3) | µs | |||
tVD_ACK | データ有効アクノリッジ時間 (10) | 3.45 (3) | µs | |||
VnL | Low レベルでのノイズ・マージン | 接続された各デバイスに対して (ヒステリシスを含む) | 0.1 * AVDD | V | ||
Vnh | High レベルでのノイズ・マージン | 接続された各デバイスに対して (ヒステリシスを含む) | 0.2 * AVDD | V | ||
ファースト・モード | ||||||
fSCL | SCL クロック周波数 | 0 | 400 | kHz | ||
tHD_STA | (繰り返し) START 条件のホールド時間 | この時間が経過すると、最初のクロック・パルスが生成されます。 | 0.6 | µs | ||
tLOW | SCL クロックの Low の時間 | 1.3 | µs | |||
tHIGH | SCL クロックの High の時間 | 0.6 | µs | |||
tSU_STA | 繰り返し START 条件のセットアップ時間 | 0.6 | µs | |||
tHD_DAT | データ・ホールド時間 (1) | 0 (2) | (3) | µs | ||
tSU_DAT | データ・セットアップ時間 | 100 (4) | ns | |||
tr | SDA 信号と SCL 信号の両方の立ち上がり時間 | 20 | 300 | ns | ||
tf | SDA 信号と SCL 信号の両方の立ち下がり時間 (2)(5)(6)(7) | 20 x (AVDD / 5.5V) | 300 | ns | ||
tSU_STO | STOP 条件のセットアップ時間 | 0.6 | µs | |||
tBUF | STOP 条件と START 条件の間のバス解放時間 | 1.3 | µs | |||
Cb | 各バス・ラインの容量性負荷 (8) | 400 | pF | |||
tVD_DAT | データ有効時間 (9) | 0.9 (3) | µs | |||
tVD_ACK | データ有効アクノリッジ時間 (10) | 0.9 (3) | µs | |||
VnL | Low レベルでのノイズ・マージン | 接続された各デバイスに対して (ヒステリシスを含む) | 0.1 * AVDD | V | ||
Vnh | High レベルでのノイズ・マージン | 接続された各デバイスに対して (ヒステリシスを含む) | 0.2 * AVDD | V |