JAJSD65C february   2017  – february 2023 PGA460-Q1

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 ピン構成および機能
  6. 6 仕様
    1. 6.1  絶対最大定格
    2. 6.2  ESD 定格
    3. 6.3  推奨動作条件
    4. 6.4  熱に関する情報
    5. 6.5  内部電源レギュレータの特性
    6. 6.6  トランスデューサ・ドライバ特性
    7. 6.7  トランスデューサ・レシーバ特性
    8. 6.8  A/D コンバータの特性
    9. 6.9  デジタル信号処理特性
    10. 6.10 温度センサの特性
    11. 6.11 高電圧 I/O 特性
    12. 6.12 デジタル I/O 特性
    13. 6.13 EEPROM の特性
    14. 6.14 タイミング要件
    15. 6.15 スイッチング特性
    16. 6.16 代表的な特性
  7. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1  電源ブロック
      2. 7.3.2  バースト生成
        1. 7.3.2.1 センタータップ・トランスの使用
        2. 7.3.2.2 直接駆動
        3. 7.3.2.3 その他の構成
      3. 7.3.3  アナログ・フロントエンド
      4. 7.3.4  デジタル・シグナル・プロセッサ
        1. 7.3.4.1 超音波エコー - バンドパス・フィルタ
        2. 7.3.4.2 超音波エコー – 整流器、ピーク・ホールド、ローパス・フィルタ、データ選択
        3. 7.3.4.3 超音波エコー - 非線形スケーリング
        4. 7.3.4.4 超音波エコー — スレッショルド・データの割り当て
        5. 7.3.4.5 デジタル・ゲイン
      5. 7.3.5  システム診断
        1. 7.3.5.1 デバイス内部診断
      6. 7.3.6  インターフェイスの説明
        1. 7.3.6.1 時間コマンド・インターフェイス
          1. 7.3.6.1.1 実行コマンド
          2. 7.3.6.1.2 構成 / ステータス・コマンド
        2. 7.3.6.2 USART インターフェイス
          1. 7.3.6.2.1 USART 非同期モード
            1. 7.3.6.2.1.1 同期フィールド
            2. 7.3.6.2.1.2 コマンド・フィールド
            3. 7.3.6.2.1.3 データ・フィールド
            4. 7.3.6.2.1.4 チェックサム・フィールド
            5. 7.3.6.2.1.5 PGA460-Q1 UART コマンド
            6. 7.3.6.2.1.6 UARTの動作
              1. 7.3.6.2.1.6.1 無応答動作
              2. 7.3.6.2.1.6.2 応答動作 (レジスタ読み取りを除くすべて)
              3. 7.3.6.2.1.6.3 応答動作 (レジスタ読み取り)
            7. 7.3.6.2.1.7 診断フィールド
            8. 7.3.6.2.1.8 USART 同期モード
          2. 7.3.6.2.2 1 線式 UART インターフェイス
          3. 7.3.6.2.3 UART動作による超音波物体検出
        3. 7.3.6.3 イン・システム IO ピン・インターフェイスの選択
      7. 7.3.7  エコー・データ・ダンプ
        1. 7.3.7.1 オンボード・メモリ・データ保存
        2. 7.3.7.2 USART 同期モードによるダイレクト・データ・バースト
      8. 7.3.8  低消費電力モード
        1. 7.3.8.1 時間コマンド・インターフェイス
        2. 7.3.8.2 UART インターフェイス
      9. 7.3.9  トランスデューサの時間および温度デカップリング
        1. 7.3.9.1 時間デカップリング
        2. 7.3.9.2 温度デカップリング
      10. 7.3.10 メモリ CRC 計算
      11. 7.3.11 温度センサと温度データパス
      12. 7.3.12 TEST ピンの機能
    4. 7.4 デバイスの機能モード
    5. 7.5 プログラミング
      1. 7.5.1 UART および USART 通信の例
    6. 7.6 レジスタ・マップ
      1. 7.6.1 EEPROM のプログラミング
      2. 7.6.2 レジスタ・マップ・パーティショニングとデフォルト値
      3. 7.6.3 REGMAP レジスタ
  8. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
      1. 8.1.1 トランスデューサのタイプ
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 トランス駆動方式
        1. 8.2.1.1 設計要件
        2. 8.2.1.2 詳細な設計手順
          1. 8.2.1.2.1 トランスデューサ駆動電圧
          2. 8.2.1.2.2 トランスデューサ駆動周波数
          3. 8.2.1.2.3 トランスデューサのパルス数
          4. 8.2.1.2.4 トランスの巻線比
          5. 8.2.1.2.5 トランスの飽和電流と電源電圧定格
        3. 8.2.1.3 アプリケーション曲線
      2. 8.2.2 直接駆動 (トランスレス) 方式
        1. 8.2.2.1 設計要件
        2. 8.2.2.2 詳細な設計手順
        3. 8.2.2.3 アプリケーション曲線
    3. 8.3 電源に関する推奨事項
    4. 8.4 レイアウト
      1. 8.4.1 レイアウトのガイドライン
      2. 8.4.2 レイアウト例
  9. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 ドキュメントのサポート
      1. 9.1.1 関連資料
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 商標
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  10. 10メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.3.12 TEST ピンの機能

PGA460-Q1 TEST ピンは、以下のような複数の目的に使用できます。

  • ユーザーが PGA460-Q1 デバイスから内部信号を抽出できるようにします。
  • デジタル・ピンの出力電圧を選択します。これにより、外部電圧変換器を使用せずに、3.3V MCU または 5V MCU をデバイスに接続できます。RXD、TXD、SCLK、DECPL、および TEST ピンは、この選択の影響を受けます。

内部テスト・マルチプレクサを使ってあらかじめ定義された信号を選択することにより、TEST ピンで内部信号を抽出できます。TEST_MUX レジスタ・パラメータを使って、この信号を選択します。表 7-5に、TEST ピンで出力される可能性のある PGA460-Q1 内部信号を示します。

表 7-5 TEST ピンで多重化可能な内部信号
TEST_MUX 値信号名種類説明
0x00ハイ・インピーダンス (ディセーブル)アナログTEST ピンはハイ・インピーダンス状態です
0x01ASC 出力ADC バッファ後の SAR ADC 入力
0x02予約済み
0x03予約済み
0x048MHz クロックデジタル8MHz クロック出力 PGA460-Q1
0x05ADCサンプル・クロック1μs ADC サンプル・クロック
0x06予約済み
0x07予約済み

アナログ・テスト・マルチプレクサ出力として使用する場合、TEST ピンの出力電圧は 0V から1.8V の間で変化し、コモン・モード電圧は 0.9V に設定されます。

TEST ピンでのデジタル電圧レベルの選択は、デバイスの電源投入時に実行されます。電源投入時に、デバイスは、TEST ピンのレベルをチェックします。レベルが LOW の場合、デジタル出力ピンは 3.3V で動作します。TEST ピンが HIGH に接続されている場合 (3.3V または 5V は、どちらも HIGH 状態と見なされます)、デジタル出力ピンは 5V で動作します。この状態は PGA460-Q1 デバイスでラッチされるため、テスト・マルチプレクサは、前述のように TEST ピンを他の用途に使用できます。 5V デジタル出力を使用する必要があり、かつ、テスト・マルチプレクサ出力を PGA460-Q1 デバイスから抽出する必要がある場合は、図 7-40 に示すように、TEST ピンに弱いプルアップ抵抗を接続できます。

GUID-6730F430-C83E-41E2-BEBC-01CBFB79CBEE-low.gif図 7-40 TEST ピンのテスト・マルチプレクサ出力アプリケーション

図 7-40 に示すように、抵抗 (RPU) は永続的な電源に接続され、RPU 抵抗と 800kΩ の内部抵抗を経由してグランドへの電流パスが生成されます。この構成はシステムにとって問題ではありませんが、PGA460-Q1 低消費電力モードを使用してエネルギーを節約する必要があるアプリケーションでは、静止電流がわずかに増加する可能性があります。この場合、TEST ピンは、外部 MCU の GPIO ピンに接続できます。この GPIO ピンを使って、TEST ピンにロジック LOW または HIGH の状態を出力して、デバイスのスタートアップ時の電圧レベルを選択し、その後、GPIO 出力をディセーブルにしてエネルギーを節約することができます。また、MCU がいずれかの PGA460-Q1 テスト出力信号を使用する場合には、GPIOを入力として再設定することもできます。外付けプルアップ抵抗は、CMOS 5V UART 通信にのみ必要であり、3V 通信には必要ありません。