JAJSEW1D September   2003  – March 2018 REF1112

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      シャント基準電圧アプリケーションの回路図
      2.      ピン配置
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Typical Characteristics
  7. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
    4. 7.4 Device Functional Modes
  8. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Applications
      1. 8.2.1 Shunt Regulator
        1. 8.2.1.1 Design Requirements
        2. 8.2.1.2 Detailed Design Procedure
      2. 8.2.2 MicroPOWER 3-μA, 1-V Voltage Reference
        1. 8.2.2.1 Design Requirements
        2. 8.2.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 8.2.3 2.5-V Reference on 1 μA
        1. 8.2.3.1 Design Requirements
        2. 8.2.3.2 Detailed Design Procedure
      4. 8.2.4 Adjustable Voltage Shunt Reference
      5. 8.2.5 Level Shift to Achieve Full ADC Input Range
      6. 8.2.6 Stable Current Source
  9. 9 Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
  11. 11デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 11.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 11.2 コミュニティ・リソース
    3. 11.3 商標
    4. 11.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 11.5 Glossary
  12. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

6.4 Thermal Information

THERMAL METRIC(1) REF1112 UNIT
DBZ (SOT-23)
3 PINS
RθJA Junction-to-ambient thermal resistance 219 °C/W
RθJC(top) Junction-to-case (top) thermal resistance 99 °C/W
RθJB Junction-to-board thermal resistance 79 °C/W
ψJT Junction-to-top characterization parameter 6.7 °C/W
ψJB Junction-to-board characterization parameter 79.6 °C/W
(1) For more information about traditional and new thermal metrics, see the Semiconductor and IC Package Thermal Metrics application report.