JAJSGK7C December   2018  – September 2020 SN74AXCH1T45

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 Revision History
  5. 5 Pin Configuration and Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Operating Characteristics: TA = 25°C
    7. 6.7 Typical Characteristics
  7. 7 Parameter Measurement Information
    1. 7.1 Load Circuit and Voltage Waveforms
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Standard CMOS Inputs
      2. 8.3.2 Balanced High-Drive CMOS Push-Pull Outputs
      3. 8.3.3 Partial Power Down (Ioff)
      4. 8.3.4 VCC Isolation
      5. 8.3.5 Over-voltage Tolerant Inputs
      6. 8.3.6 Negative Clamping Diodes
      7. 8.3.7 Fully Configurable Dual-Rail Design
      8. 8.3.8 Supports High-Speed Translation
      9. 8.3.9 Bus-Hold Data Inputs
    4. 8.4 Device Functional Modes
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Enable Times
    2. 9.2 Typical Applications
      1. 9.2.1 Interrupt Request Application
        1. 9.2.1.1 Design Requirements
        2. 9.2.1.2 Detailed Design Procedure
        3. 9.2.1.3 Application Curve
      2. 9.2.2 Universal Asynchronous Receiver-Transmitter (UART) Interface Application
        1. 9.2.2.1 Design Requirements
        2. 9.2.2.2 Detailed Design Procedure
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 Documentation Support
    2. 12.2 Receiving Notification of Documentation Updates
    3. 12.3 Support Resources
    4. 12.4 Trademarks
    5. 12.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 12.6 Glossary
  13. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

12.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif このICは、ESDによって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、ICを取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しいESD対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密なICの場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。