JAJSJD5E October 1998 – July 2020 SN74LVCH32373A
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
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この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい ESD 対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。 |
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。 |