JAJSEB4G October 2017 – February 2024 TLIN2029-Q1
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特長
- 2 アプリケーション
- 3 概要
- 4 ピン構成および機能
- 5 仕様
- 6 パラメータ測定情報
-
7 詳細説明
- 7.1 概要
- 7.2 機能ブロック図
- 7.3 機能説明
- 7.4 デバイスの機能モード
- 8 アプリケーションと実装
- 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
- 10改訂履歴
- 11メカニカル、パッケージ、および注文情報
パッケージ・オプション
メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
- DRB|8
発注情報
6 パラメータ測定情報
図 6-1 テスト システム：RX および TX アクセスによる動作電圧範囲：パラメータ 9、10
図 6-2 RX 応答：動作電圧範囲
図 6-3 LIN バス入力信号
図 6-4 RX アクセスによる LIN レシーバ テスト：パラメータ 17、18、19、20
図 6-5 VSUP_NON_OP：パラメータ 1154/56
図 6-6 IBUS_LIM のテスト回路：ドミナント状態 (ドライバ オン)、パラメータ 12
図 6-7 IBUS_PAS_DOM のテスト回路：TXD = リセッシブ状態、VBUS = 0V、パラメータ 13
図 6-8 IBUS_PAS_rec のテスト回路：パラメータ 14
図 6-9 I BUS_NO_GND のテスト回路：GND 喪失
図 6-10 IBUS_NO_BAT のテスト回路：バッテリ喪失
図 6-11 スロープ制御とデューティ サイクルのテスト回路：パラメータ 27、28、29、30、72、73、74、75
図 6-12 バス タイミング パラメータの定義
図 6-13 伝搬遅延テスト回路：パラメータ 31、32
図 6-14 伝搬遅延
図 6-15 モード遷移
図 6-16 EN によるウェークアップ
図 6-17 LIN によるウェークアップ
図 6-18 AC 特性のテスト回路