JAJSEU0G March   2003  – February 2018 TLV2460A-Q1 , TLV2461A-Q1 , TLV2462-Q1 , TLV2462A-Q1 , TLV2463A-Q1 , TLV2464A-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     代表的なアプリケーション
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
    2.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2  ESD Ratings
    3. 6.3  Recommended Operating Conditions
    4. 6.4  Thermal Information: TLV2460x-Q1
    5. 6.5  Thermal Information: TLV2461x-Q1
    6. 6.6  Thermal Information: TLV2462-Q1
    7. 6.7  Thermal Information: TLV2462A-Q1
    8. 6.8  Thermal Information: TLV2463x-Q1
    9. 6.9  Electrical Characteristics: VDD = 3 V
    10. 6.10 Electrical Characteristics: VDD = 5 V
    11. 6.11 Operating Characteristics: VDD = 3 V
    12. 6.12 Operating Characteristics: VDD = 5 V
    13. 6.13 Typical Characteristics
  7. 7 Parameter Measurement Information
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Driving a Capacitive Load
      2. 8.3.2 Offset Voltage
      3. 8.3.3 General Configurations
      4. 8.3.4 General Power Dissipation Considerations
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Shutdown Function
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Macromodel Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curve
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 12.1 ドキュメントのサポート
      1. 12.1.1 関連資料
    2. 12.2 関連リンク
    3. 12.3 コミュニティ・リソース
    4. 12.4 商標
    5. 12.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 12.6 Glossary
  13. 13メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • PW|14
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

6.2 ESD Ratings

VALUE UNIT
V(ESD) Electrostatic discharge Human-body model (HBM), per AEC Q100-002(1) ±2000 V
Charged-device model (CDM), per AEC Q100-011 ±1000
(1) AEC Q100-002 indicates that HBM stressing shall be in accordance with the ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 specification.