JAJSKM6 november   2020 TLV6700-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 Device Comparison Table
  7. 6 Pin Configuration and Functions
  8. 7 Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Timing Requirements
    7. 7.7 Switching Characteristics
    8. 7.8 Timing Diagrams
    9. 7.9 Typical Characteristics
  9. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Inputs (INA+, INB–)
      2. 8.3.2 Outputs (OUTA, OUTB)
      3. 8.3.3 Window Comparator
      4. 8.3.4 Immunity to Input Terminal Voltage Transients
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Normal Operation (VDD > UVLO)
      2. 8.4.2 Undervoltage Lockout (V(POR) < VDD < UVLO)
      3. 8.4.3 Power-On Reset (VDD < V(POR))
  10. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 VPULLUP to a Voltage Other Than VDD
      2. 9.1.2 Monitoring VDD
      3. 9.1.3 Monitoring a Voltage Other Than VDD
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 9.2.2.1 Resistor Divider Selection
        2. 9.2.2.2 Pullup Resistor Selection
        3. 9.2.2.3 Input Supply Capacitor
        4. 9.2.2.4 Input Capacitors
      3. 9.2.3 Application Curves
    3. 9.3 Do's and Don'ts
  11. 10Power Supply Recommendations
  12. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  13. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 Device Support
      1. 12.1.1 Development Support
    2. 12.2 Receiving Notification of Documentation Updates
    3. 12.3 サポート・リソース
    4. 12.4 Trademarks
    5. 12.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 12.6 用語集
  14. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

12.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif このICは、ESDによって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、ICを取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しいESD対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密なICの場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。